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產品型號:TSD-225F-3P
廠商性質:生產廠家
更新時間:2026-04-10
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三箱式冷熱沖擊試驗箱由高溫儲存區、低溫儲存區與測試區三部分組成,通過風門快速切換實現溫度沖擊,避免吊籃移動帶來的機械振動與樣品位移。該設備專用于檢測材料與電子元器件在極短時間溫度劇烈變化下的耐受能力,適用于研發、質量與可靠性實驗室。
主要用于半導體芯片、PCB板、汽車電子、鋰電池、LED、5G通信模塊、航空航天部件等。可模擬產品在實際使用中遇到的突然溫度變化(如嚴寒環境進入高溫工作區),評估其熱應力下的開裂、脫落、性能漂移或失效風險。
高溫范圍:+60℃ ~ +200℃
低溫范圍:-70℃ ~ 0℃
沖擊恢復時間:≤5分鐘
溫度轉換時間:≤10秒
溫度均勻度:≤±2℃
溫度波動度:≤±0.5℃
內箱材質:SUS304不銹鋼
外箱材質:冷軋鋼板靜電噴塑
控制器:7英寸觸摸屏可編程
三箱獨立隔熱處理,中間測試區采用雙層不銹鋼與高密度聚氨酯發泡保溫層,高溫區與低溫區分別配置鎳鉻合金加熱管與全封閉壓縮機制冷系統。各區之間設置耐高溫密封風門,由伺服電機快速驅動,避免冷熱串擾。箱門帶雙層中空鋼化玻璃觀察窗及防凝露加熱膜。
測試樣品放置于靜止的中間測試區。試驗時,控制系統先使高溫區與低溫區分別達到設定值。需高溫沖擊時,打開高溫區風門,由循環風機將熱空氣快速吹入測試區;需低溫沖擊時,關閉高溫風門并打開低溫區風門,引入冷空氣。測試區本身不加熱制冷,僅通過風門切換實現溫度快速循環。
無機械沖擊:樣品靜止,避免吊籃運動導致線束斷裂或樣品傾倒
轉換速度快:風門切換時間≤10秒,真實模擬瞬態溫變
可編程運行:支持多段溫度、循環次數、駐留時間設定
保護齊全:過溫、過壓、缺相、壓縮機延時等多重保護
相比兩箱式,三箱式可同時預熱與預冷,連續沖擊不停機,測試效率更高;樣品不受機械振動影響,適合精密或接線產品;風門密封優異,長期運行無冰堵,溫度恢復一致性更好。
GB/T 2423.22(環境試驗 溫度變化)
IEC 60068-2-14(基本環境試驗規程)
JESD22-A106(半導體溫度循環)
MIL-STD-883(微電子器件)






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