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更新時間:2026-01-14
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可靠性HAST(高加速應力測試)老化箱是一種用于模擬嚴苛溫濕度及偏壓環境的可靠性測試設備。它通過施加高溫、高濕、高壓及電偏壓等多應力條件,快速激發電子元器件的潛在缺陷,大幅縮短傳統老化測試時間,是評估產品壽命與可靠性的關鍵工具。
本設備主要用于半導體芯片、集成電路(IC)、微電子封裝器件、PCB模塊、新型電子材料及元件的可靠性驗證與壽命評估。廣泛應用于研發階段的失效分析、量產前的質量篩選以及產品可靠性的定量評估。
溫度范圍: +105℃ 至 +142℃(典型)
濕度范圍: 75% RH 至 100% RH(非飽和/飽和狀態)
壓力范圍: 常壓至 3 個大氣壓
升溫/降溫速率: 可快速升降溫(具體依型號而定)
控制精度: 溫度±0.5℃,濕度±2.5% RH
內箱材質: 高級不銹鋼(SUS304,耐腐蝕)
外箱材質: 優質冷軋鋼板噴塑或不銹鋼
結構: 采用高強度雙層框架,內箱為無縫焊接,確保氣密性與承壓安全。
內膽: SUS304不銹鋼,耐高溫高濕腐蝕。
保溫層: 高強度聚氨酯發泡,高效保溫節能。
大門: 雙道硅膠密封條,帶高強度鎖緊機構,確保高壓安全。
觀察窗: 多層鋼化玻璃,帶防凝露加熱膜。
設備通過電加熱與蒸汽發生系統,在密閉的加壓腔體內迅速建立高溫高濕環境。通過精密傳感器與PID控制系統,實時調節溫度、濕度與內部壓力至設定值。被測樣品在承受此環境應力的同時,可疊加直流或交流電偏壓,實現溫-濕-電-壓多應力復合加速老化,其失效機理與常規老化一致,但時間大幅縮短。
JESD22-A110 (JEDEC HAST)
IEC 60068-2-66
MIL-STD-883
GB/T 2423.40
及各企業自定義的加速壽命測試規范。
半導體行業: 晶圓、芯片、封裝可靠性測試。
汽車電子: 車規級芯片與模塊的耐久性驗證。
航空航天: 高可靠性元器件篩選。
通信設備: 5G模塊、光器件可靠性評估。
科研機構與質檢單位: 材料與器件失效分析研究。
高效加速: 較傳統高溫高濕(THB)測試效率提升數倍至數十倍。
控制精準: 采用多級PID與模糊算法,溫濕度波動小,測試重復性高。
安全可靠: 具備超溫、超壓、漏電、缺水等多重安全保護與報警。
人性化設計: 大尺寸觸摸屏,圖形化界面,支持程序編輯與數據導出。
擴展性強: 可集成多路偏壓電源與監控系統,實現自動化測試。
采用上送風、下回風的垂直層流循環方式,配以大功率長軸電機與定制離心風輪。風道經CFD優化,確保箱內溫濕度均勻度(通常可達±1℃,±3% RH),避免測試死角,保證所有樣品承受一致的環境應力。




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