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產品型號:THA-800PF
廠商性質:生產廠家
更新時間:2025-12-17
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本設備是專為半導體芯片(IC、SoC、功率器件、存儲芯片等)研發、質量認證及可靠性評估而設計的高精密環境測試設備。它模擬芯片在高低溫環境下的工作狀態,用于檢驗其電氣性能、功能穩定性及物理特性是否滿足嚴苛的行業標準。設備集成了精準溫控、快速溫變、防靜電保護及安全監控系統,是半導體產業鏈中關鍵測試裝備。
可靠性測試:進行高溫工作壽命(HTOL)、低溫工作壽命、溫度循環(TMCL)、高低溫存儲測試,加速芯片老化,評估其壽命與失效模式。
性能驗證:測試芯片在不同溫度下的電氣參數(如閾值電壓、導通電阻、功耗、時鐘頻率等)漂移情況,確定其工作溫度范圍。
失效分析:通過溫度應力誘使潛在缺陷(如焊接空洞、材料熱失配、介層缺陷)提前暴露,便于定位分析。
篩選與品控:對量產芯片進行高低溫篩選,剔除早期失效品,提升出廠產品批次質量。
溫度范圍:-70℃ ~ +180℃(可根據需求擴展至-85℃或+225℃)
溫度波動度:≤±0.5℃
溫度均勻度:≤±2.0℃(依據國標測試方法)
升溫速率:≥3℃/min(非線性,空載)
降溫速率:≥2℃/min(非線性,空載,從+25℃至-65℃)
內箱尺寸:定制化(常見40L至1000L,滿足晶圓、測試板、整盤芯片測試需求)
控制精度:0.1℃
內箱材質:采用高級不銹鋼板,無縫焊接,表面光潔耐腐蝕,確保腔體純凈,無污染源。
外箱材質:優質冷軋鋼板靜電噴涂,或不銹鋼拉絲面板,結構堅固。
保溫層:高強度聚氨酯發泡或玻璃棉,厚度加厚,確保絕熱性能優異,降低能耗并保證外壁不結露。
觀察窗:雙層中空電熱防霧鋼化玻璃窗,內置LED照明,便于實時觀察測試狀態。
測試引線孔:標配防靜電、可密封的測試電纜引線孔,方便連接外部測試儀(如半導體參數分析儀、示波器)。
設備設計符合或優于以下國際、國內及行業標準:
半導體標準:JESD22-A104(溫度循環)、JESD22-A101(高溫存儲)、MIL-STD-883(微電子器件測試方法)。
環境試驗標準:GB/T 2423.1/.2、IEC 60068-2-1/.2。
安全標準:CE、UL等電氣安全規范。
集成電路設計公司:用于芯片原型驗證與可靠性評估。
晶圓制造與封測廠:用于工藝可靠性監控與成品最終測試。
功率半導體制造商:針對IGBT、MOSFET等器件進行高溫大電流測試。
科研院所與高校:用于微電子學、材料學相關課題研究。
汽車電子、航空航天、電子:用于滿足車規級(AEC-Q100)、芯片的強制性環境試驗要求。
精準風道設計:采用頂部或背部垂直送風循環系統,配以高性能離心風機和可調百葉,確保箱內溫場均勻,風速可調,滿足芯片測試對氣流的要求。
全防靜電設計:內箱、樣品架、門封等均采用防靜電材料或接地處理,有效避免靜電積聚(ESD)對敏感芯片的損傷。
低振動與低噪音:壓縮機與循環系統采用柔性連接與減振設計,確保設備運行平穩,減少機械振動對芯片測試的干擾。
智能化控制系統:配備大尺寸觸摸屏,可編程設定復雜溫度曲線,支持遠程監控與數據導出。具備多重安全保護(過熱、過流、壓縮機延時、樣品超溫保護等)。




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