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半導體芯片高低溫測試箱 精密溫控

半導體芯片高低溫測試箱 精密溫控是專為半導體芯片(IC、SoC、功率器件、存儲芯片等)研發、質量認證及可靠性評估而設計的高精密環境測試設備。它模擬芯片在高低溫環境下的工作狀態,用于檢驗其電氣性能、功能穩定性及物理特性是否滿足嚴苛的行業標準。設備集成了精準溫控、快速溫變、防靜電保護及安全監控系統,是半導體產業鏈中關鍵測試裝備。

  • 產品型號:THA-800PF
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-12-17
  • 訪  問  量:21
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詳細介紹

半導體芯片高低溫測試箱 精密溫控生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

產品詳情

本設備是專為半導體芯片(IC、SoC、功率器件、存儲芯片等)研發、質量認證及可靠性評估而設計的高精密環境測試設備。它模擬芯片在高低溫環境下的工作狀態,用于檢驗其電氣性能、功能穩定性及物理特性是否滿足嚴苛的行業標準。設備集成了精準溫控、快速溫變、防靜電保護及安全監控系統,是半導體產業鏈中關鍵測試裝備。

半導體芯片高低溫測試箱 精密溫控

主要用途

  • 可靠性測試:進行高溫工作壽命(HTOL)、低溫工作壽命、溫度循環(TMCL)、高低溫存儲測試,加速芯片老化,評估其壽命與失效模式。

  • 性能驗證:測試芯片在不同溫度下的電氣參數(如閾值電壓、導通電阻、功耗、時鐘頻率等)漂移情況,確定其工作溫度范圍。

  • 失效分析:通過溫度應力誘使潛在缺陷(如焊接空洞、材料熱失配、介層缺陷)提前暴露,便于定位分析。

  • 篩選與品控:對量產芯片進行高低溫篩選,剔除早期失效品,提升出廠產品批次質量。

技術參數

  • 溫度范圍:-70℃ ~ +180℃(可根據需求擴展至-85℃或+225℃)

  • 溫度波動度:≤±0.5℃

  • 溫度均勻度:≤±2.0℃(依據國標測試方法)

  • 升溫速率:≥3℃/min(非線性,空載)

  • 降溫速率:≥2℃/min(非線性,空載,從+25℃至-65℃)

  • 內箱尺寸:定制化(常見40L至1000L,滿足晶圓、測試板、整盤芯片測試需求)

  • 控制精度:0.1℃

箱體結構與材質

  • 內箱材質:采用高級不銹鋼板,無縫焊接,表面光潔耐腐蝕,確保腔體純凈,無污染源。

  • 外箱材質:優質冷軋鋼板靜電噴涂,或不銹鋼拉絲面板,結構堅固。

  • 保溫層:高強度聚氨酯發泡或玻璃棉,厚度加厚,確保絕熱性能優異,降低能耗并保證外壁不結露。

  • 觀察窗:雙層中空電熱防霧鋼化玻璃窗,內置LED照明,便于實時觀察測試狀態。

  • 測試引線孔:標配防靜電、可密封的測試電纜引線孔,方便連接外部測試儀(如半導體參數分析儀、示波器)。

滿足標準

設備設計符合或優于以下國際、國內及行業標準:

  • 半導體標準:JESD22-A104(溫度循環)、JESD22-A101(高溫存儲)、MIL-STD-883(微電子器件測試方法)。

  • 環境試驗標準:GB/T 2423.1/.2、IEC 60068-2-1/.2。

  • 安全標準:CE、UL等電氣安全規范。

應用領域

  • 集成電路設計公司:用于芯片原型驗證與可靠性評估。

  • 晶圓制造與封測廠:用于工藝可靠性監控與成品最終測試。

  • 功率半導體制造商:針對IGBT、MOSFET等器件進行高溫大電流測試。

  • 科研院所與高校:用于微電子學、材料學相關課題研究。

  • 汽車電子、航空航天、電子:用于滿足車規級(AEC-Q100)、芯片的強制性環境試驗要求。

結構設計特點

  1. 精準風道設計:采用頂部或背部垂直送風循環系統,配以高性能離心風機和可調百葉,確保箱內溫場均勻,風速可調,滿足芯片測試對氣流的要求。

  2. 全防靜電設計:內箱、樣品架、門封等均采用防靜電材料或接地處理,有效避免靜電積聚(ESD)對敏感芯片的損傷。

  3. 低振動與低噪音:壓縮機與循環系統采用柔性連接與減振設計,確保設備運行平穩,減少機械振動對芯片測試的干擾。

  4. 智能化控制系統:配備大尺寸觸摸屏,可編程設定復雜溫度曲線,支持遠程監控與數據導出。具備多重安全保護(過熱、過流、壓縮機延時、樣品超溫保護等)。


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