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線性快速溫變試驗箱 用于芯片測試

線性快速溫變試驗箱 用于芯片測試是一款專為半導體芯片、集成電路(IC)、微電子模組等高精尖電子元器件設計的高性能環境可靠性測試設備。它通過精確控制箱內溫度,以預設的線性速率(如5℃/min, 10℃/min, 15℃/min甚至更高) 進行快速升降溫循環,高效模擬嚴苛溫度環境,加速暴露芯片在設計、封裝、材料及工藝上的潛在缺陷,是確保芯片產品可靠性與耐久性的關鍵工具。

  • 產品型號:TEA-408PF
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-12-08
  • 訪  問  量:69
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詳細介紹

線性快速溫變試驗箱 用于芯片測試生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

產品概述:

本產品是一款專為半導體芯片、集成電路(IC)、微電子模組等高精尖電子元器件設計的高性能環境可靠性測試設備。它通過精確控制箱內溫度,以預設的線性速率(如5℃/min, 10℃/min, 15℃/min甚至更高) 進行快速升降溫循環,高效模擬嚴苛溫度環境,加速暴露芯片在設計、封裝、材料及工藝上的潛在缺陷,是確保芯片產品可靠性與耐久性的關鍵工具。



線性快速溫變試驗箱 用于芯片測試

用途

主要用于芯片產品的:

  • 可靠性篩選(HALT/HASS):在研發階段激發缺陷,在生產階段進行高加速應力篩選。

  • 溫度循環測試(Thermal Cycling):評估芯片在反復溫度變化下,因不同材料熱膨脹系數不匹配導致的焊點疲勞、開裂、分層等失效。

  • 老化測試(Burn-in):在通電狀態下進行溫度循環,剔除早期失效品。

  • 性能驗證:測試芯片在不同溫度條件下的電氣性能與功能穩定性。


技術參數

  • 溫度范圍:-70℃ ~ +180℃(或根據需求定制)

  • 線性變溫速率:5℃/min ~ 20℃/min(取決于溫度段及負載)

  • 溫度均勻度:≤±2.0℃(按國標測量)

  • 溫度波動度:≤±0.5℃

  • 內箱尺寸:定制為主(如100L、200L、500L),適應晶圓、托盤、測試板等

  • 控制器:高性能彩色觸摸屏,支持多段可編程,USB存儲及上位機軟件

  • 制冷系統:復疊式/級聯式機械制冷,或機械制冷+液氮輔助


產品特點

  1. 高精度線性控制:采用控制算法,確保在全程變溫過程中溫度變化嚴格遵循線性斜率,測試條件可重復、可比對。

  2. 極快的熱響應:針對芯片測試負載較小的特點優化設計,實現空載下升降溫速率。

  3. 低擾動測試環境:運行時振動小、電磁干擾低,避免對芯片的電氣測試信號造成干擾。

  4. 高可靠性設計:關鍵元器件(如壓縮機、控制器)采用國際品牌,確保長時間連續穩定運行,滿足芯片測試周期長的需求。

  5. 完善的監測接口:配備測試孔,便于芯片通電測試線纜穿過,實時監測電性能。



風道系統

采用頂部出風、底部回風的垂直單向流風道設計。

  • 高效離心風機驅動氣流,確保箱內溫度均勻性。

  • 獨特的風道導向與分流設計,使氣流均勻、平穩地通過樣品區域,避免對芯片造成直接強風沖擊,同時實現高效熱交換。

  • 加熱器與蒸發器科學布置在風道中,響應迅速,控溫精準。


安裝與調試

  1. 場地要求:通風良好,遠離熱源、振源。確保地面承重及預留足夠的散熱和維護空間(前后左右通常需>80cm)。

  2. 電源配置:需獨立供應符合設備要求的380V三相五線制動力電源及220V單相控制電源。

  3. 安裝流程:設備就位→調平→連接電源→連接冷卻水(若為水冷型)→檢查接地。

  4. 調試與驗收:由專業工程師現場開機,進行空載性能測試,在用戶見證下運行典型溫度程序,驗證關鍵參數(變溫速率、均勻度、波動度)是否符合協議標準,并提供現場操作培訓。


結構設計

  • 箱體結構:內箱采用優質304不銹鋼,耐腐蝕、光潔易清潔;外箱為冷軋鋼板噴塑。中間填充高強度環保聚氨酯泡沫保溫層,保溫性能優異。

  • 內部承載:箱內配備可調節高度的不銹鋼樣品架或多層測試滑軌,方便安裝芯片測試板(DUT板)及負載。

  • 觀察窗:雙層中空防爆玻璃觀察窗,內置LED照明,方便觀察測試狀態。

  • 密封設計:門框采用雙層耐高低溫硅橡膠密封條,確保長期運行無泄漏。

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