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產(chǎn)品展示/ Product display

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可編程冷熱沖擊箱 半導體芯片環(huán)境測試儀器

可編程冷熱沖擊箱 半導體芯片環(huán)境測試儀器是一款專為半導體芯片、電子元器件等產(chǎn)品設計的高可靠性環(huán)境測試設備。它通過瞬間的高溫與極低溫轉換,模擬嚴苛的溫度環(huán)境,從而加速暴露測試品因熱脹冷縮效應產(chǎn)生的材料老化、性能失效等問題。本設備采用觸摸屏編程控制器與高精度溫控系統(tǒng),確保測試過程的精確、可靠與高效,是提升產(chǎn)品質量與可靠性的關鍵儀器。

  • 產(chǎn)品型號:TSD-200F-2P
  • 廠商性質:生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2026-03-19
  • 訪  問  量:309
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詳細介紹

可編程冷熱沖擊箱 半導體芯片環(huán)境測試儀器生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品概述

可編程冷熱沖擊箱是一款專為半導體芯片、電子元器件等產(chǎn)品設計的高可靠性環(huán)境測試設備。它通過瞬間的高溫與極低溫轉換,模擬嚴苛的溫度環(huán)境,從而加速暴露測試品因熱脹冷縮效應產(chǎn)生的材料老化、性能失效等問題。本設備采用觸摸屏編程控制器與高精度溫控系統(tǒng),確保測試過程的精確、可靠與高效,是提升產(chǎn)品質量與可靠性的關鍵儀器。

產(chǎn)品用途

本設備主要用于測試半導體芯片、集成電路(IC)、微電子模塊、PCB板及其他電子元器件在突然遭遇溫度變化時的耐受能力。通過該項測試,可以有效評估產(chǎn)品的壽命、可靠性及封裝工藝的完整性,為改進設計、篩選缺陷產(chǎn)品提供關鍵數(shù)據(jù)支持。

工作原理

設備采用成熟的三箱式(預熱區(qū)、測試區(qū)、預冷區(qū))結構。測試時,待測樣品置于測試區(qū)(吊籃)中。當需要溫度轉換時,吊籃會在程序控制下,在極短時間內(通常<10秒)從測試區(qū)移動至已達到設定高溫的預熱區(qū)或設定低溫的預冷區(qū),從而實現(xiàn)樣品溫度的急劇變化。這種結構避免了傳統(tǒng)溫箱整體降溫/升溫的滯后,能產(chǎn)生真正的“溫度沖擊"效應。

可編程冷熱沖擊箱 半導體芯片環(huán)境測試儀器

技術特點

  • 精準可編程: 大尺寸彩色觸摸屏,可預設多條復雜溫度曲線,支持溫度斜率、駐留時間、循環(huán)次數(shù)等參數(shù)靈活設定。

  • 高效沖擊: 三箱式設計,溫度轉換時間<10秒,能迅速在高溫(如+150℃)和低溫(如-65℃)之間切換。

  • 溫場: 采用強制空氣循環(huán)系統(tǒng),確保測試區(qū)內溫度均勻穩(wěn)定,保證測試條件的一致性。

  • 可靠耐用: 核心制冷與加熱部件均采用國際品牌,確保設備長期穩(wěn)定運行,壽命長久。

  • 安全保障: 具備完善的超溫保護、漏電保護、風機過熱保護及故障自診斷功能,確保操作安全。

技術參數(shù)

  • 溫度范圍: 高溫區(qū):+60℃ ~ +200℃;低溫區(qū):-10℃ ~ -65℃(或依配置而定)

  • 升溫/降溫時間: 約5分鐘內可從常溫升至高溫;約10分鐘內可從常溫降至低溫。

  • 溫度轉換時間: ≤ 10秒(樣品從移動開始到到達目標槽的時間)。

  • 溫度波動度: ±0.5℃

  • 溫度均勻度: ±2.0℃

  • 內箱材質: SUS304不銹鋼,耐腐蝕,易于清潔。

滿足標準

設備設計嚴格遵循并滿足以下國際、國內測試標準:

  • GB/T 2423.22

  • IEC 60068-2-14

  • JESD22-A104

  • MIL-STD-883

  • EIA-364等

應用領域

除核心的半導體芯片測試外,本設備還廣泛應用于:

  • 航空航天: 機載電子設備、衛(wèi)星元器件的可靠性篩選。

  • 汽車電子: 發(fā)動機控制單元(ECU)、傳感器、車載娛樂系統(tǒng)在溫度下的性能測試。

  • 通信設備: 5G模塊、光通訊器件、基站設備的環(huán)境適應性驗證。


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