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紫外線老化試驗箱電子芯片

紫外線老化試驗箱電子芯片
助力企業(yè)評估電子芯片在復雜環(huán)境下的可靠性與使用壽命，為芯片材料選型、工藝優(yōu)化和質量管控提供關鍵數據支持。

產品型號：HT-UV3
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-07-02
訪問量：279

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聯(lián)系電話：0769-81085066

詳細介紹

生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產研發(fā)技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優(yōu)秀產品。

紫外線老化試驗箱電子芯片

產品用途

專為集成電路、半導體芯片等電子芯片研發(fā)、生產及質量檢測設計，旨在模擬自然環(huán)境中紫外線、溫度、濕度等因素對芯片封裝材料、基板、鍵合線等部件的老化作用。通過精準調控紫外線輻射強度、溫濕度、光照時間等參數，加速芯片材料老化進程，可快速檢測出芯片材料的開裂、分層、絕緣性能下降等問題，助力企業(yè)評估電子芯片在復雜環(huán)境下的可靠性與使用壽命，為芯片材料選型、工藝優(yōu)化和質量管控提供關鍵數據支持。

紫外線老化試驗箱電子芯片

紫外線老化試驗箱電子芯片

溫度控制系統(tǒng)

采用高精度 PID 智能控溫算法，搭配鉑電阻溫度傳感器，實時監(jiān)測箱內溫度變化。當溫度偏離設定值時，系統(tǒng)自動調節(jié)加熱絲功率，結合風冷或水冷輔助散熱，將溫度精確控制在 ±0.5℃范圍內。超溫保護裝置在溫度異常時立即切斷電源并報警，保障設備和芯片樣品安全。

制冷系統(tǒng)

選用進口高效壓縮機，配合環(huán)保制冷劑，制冷效率高、能耗低。采用風冷式冷凝器和翅片式蒸發(fā)器，結合智能節(jié)流裝置，可快速降低箱內溫度。通過 PID 調節(jié)控制制冷量，確保溫度穩(wěn)定，即使在高溫高濕環(huán)境下也能實現(xiàn)精準制冷。

紫外線老化試驗箱電子芯片

加濕系統(tǒng)

采用超聲波加濕技術，將水霧化成微小顆粒，通過風機送入試驗箱內。高精度濕度傳感器實時監(jiān)測箱內濕度，PID 控制系統(tǒng)根據設定值自動調節(jié)加濕量，可實現(xiàn)濕度的快速穩(wěn)定調節(jié)，濕度控制精度達 ±2% R?H。

工作原理

以熒光紫外線燈管為光源，模擬太陽光中的紫外線輻射，引發(fā)芯片材料分子鏈斷裂、氧化等光化學反應。溫度控制系統(tǒng)模擬高溫、低溫環(huán)境，加速材料老化；制冷系統(tǒng)實現(xiàn)低溫環(huán)境模擬；加濕系統(tǒng)營造高濕環(huán)境。冷凝系統(tǒng)模擬露水侵蝕，多種環(huán)境因素協(xié)同作用，在短時間內模擬電子芯片在自然環(huán)境中長時間的老化過程，以便快速評估其性能變化。

產品優(yōu)勢

精準測試：多系統(tǒng)協(xié)同控制，精準模擬復雜環(huán)境，測試結果真實可靠。

高效加速：加速老化過程，大幅縮短芯片研發(fā)和質檢周期。

智能操控：配備觸摸屏，支持多參數編程和自定義試驗循環(huán)。

穩(wěn)定耐用：采用優(yōu)質核心部件，確保設備長期穩(wěn)定運行。

安全防護：具備漏電、超溫、缺水等多重保護機制。

靈活定制：可根據芯片類型定制特殊功能，滿足個性化測試需求。

技術參數

濕度范圍：20%～95% R?H，精準模擬各類濕度環(huán)境。

紫外線波長：UV-A（315 - 400nm）、UV-B（280 - 315nm），可靈活切換。

輻照強度：0.1 - 2.0W/㎡連續(xù)可調，適配不同測試場景。

黑板溫度：40℃～80℃，精確控制樣品表面溫度。

試驗時間：0 - 9999h 自由設定，支持長時間老化測試。

濕度均勻度：±2%，溫度均勻度：±1℃，確保箱內環(huán)境穩(wěn)定。

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