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更新時(shí)間:2025-09-10
瀏覽次數(shù):88隨著 5G、人工智能、自動(dòng)駕駛等領(lǐng)域的快速發(fā)展,芯片對運(yùn)行環(huán)境的適應(yīng)性要求日益嚴(yán)苛。芯片在生產(chǎn)、運(yùn)輸及實(shí)際應(yīng)用中,需面臨高低溫驟變、溫度循環(huán)沖擊等復(fù)雜環(huán)境,一旦溫變適應(yīng)性不足,將直接導(dǎo)致芯片性能衰減、壽命縮短甚至故障。此次廣皓天提供的快速溫變試驗(yàn)箱,成為解決這一問題的核心設(shè)備 —— 該批試驗(yàn)箱覆蓋 - 60℃至 180℃的寬溫域,可精準(zhǔn)模擬芯片從北方嚴(yán)寒到南方酷暑、從實(shí)驗(yàn)室環(huán)境到工業(yè)現(xiàn)場的全場景溫度變化,同時(shí)溫度變化速率高可達(dá) 20℃/min,能高效復(fù)現(xiàn)芯片在快速溫變場景下的工作狀態(tài),為芯片設(shè)計(jì)優(yōu)化提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支撐。


為匹配半導(dǎo)體研發(fā)的高精度需求,廣皓天對快速溫變試驗(yàn)箱進(jìn)行了多項(xiàng)針對性升級:設(shè)備搭載自主研發(fā)的三閉環(huán)控溫系統(tǒng),溫度控制精度達(dá) ±0.05℃,確保芯片測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性與重復(fù)性;艙體采用防電磁干擾設(shè)計(jì),避免外界電磁信號對芯片測試結(jié)果產(chǎn)生干擾,保障測試數(shù)據(jù)的可靠性;同時(shí),每臺快速溫變試驗(yàn)箱均預(yù)留了多組高速數(shù)據(jù)接口,可與半導(dǎo)體企業(yè)的芯片測試系統(tǒng)無縫對接,實(shí)現(xiàn)測試過程的自動(dòng)化控制與數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)分析。此外,針對不同類型芯片(如邏輯芯片、功率芯片、存儲芯片)的測試需求,廣皓天還為快速溫變試驗(yàn)箱定制了專屬測試工裝,進(jìn)一步提升測試效率與適配性。

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