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Cassification
更新時間:2025-07-11
瀏覽次數:128在電子科技領域,產品的可靠性至關重要。隨著電子產品應用場景的不斷拓展,從酷熱的沙漠到嚴寒的極地,從高濕度的雨林到干燥的高原,芯片、電路板等核心部件面臨著未有的環境挑戰。為了確保產品在復雜環境下的穩定運行,電子科技企業不斷尋求更測試手段。近日,電子科技企業名稱迎來了一臺大型冷熱沖擊試驗箱的交付,為其芯片、電路板可靠性測試帶來了重大升級。

在芯片可靠性測試方面,該試驗箱展現出了強大的功能。企業研發團隊將新型處理器芯片置于試驗箱內,進行了連續 72 小時的冷熱循環測試。在測試過程中,芯片經歷了從 - 40℃的低溫環境到 85℃高溫環境的反復切換,同時保持滿負荷運行狀態。通過實時監測芯片的運算速度、功耗、信號傳輸穩定性等關鍵參數,研發團隊發現芯片在高溫環境下存在晶體管漏電率上升的問題。基于試驗箱反饋的數據,研發團隊對芯片的散熱結構和電路設計進行了優化。改進后的芯片在相同測試條件下,性能穩定性提升了 25%,有效延長了使用壽命。


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