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聚焦半導體檢測需求,廣皓天企業可程式恒溫恒濕試驗箱獲晶圓廠批量訂單

更新時間:2025-07-04      瀏覽次數:252

近期,廣皓天企業憑借自主研發的可程式恒溫恒濕試驗箱,成功贏得多家晶圓廠批量訂單,為半導體檢測領域注入新動能。在半導體行業對芯片性能要求不斷攀升的背景下,精準模擬復雜環境以完成芯片可靠性檢測,成為晶圓廠提升產品競爭力的關鍵,而廣皓天這款設備的可程式特性,恰好直擊行業痛點。

聚焦半導體檢測需求,廣皓天企業可程式恒溫恒濕試驗箱獲晶圓廠批量訂單


廣皓天可程式恒溫恒濕試驗箱,專為半導體檢測場景深度優化。其溫度控制范圍可達 - 70℃至 150℃,波動度精準控制在 ±0.5℃以內,濕度調節范圍為 20% - 98% RH,波動度僅 ±2.5% RH ,能模擬芯片實際使用中的溫濕度環境。而 “可程式" 特性更是該設備的核心優勢,支持用戶通過高精度觸摸屏,自由編輯多達 100 組、每組 50 段的溫濕度變化程序,可模擬芯片從生產、運輸到使用全生命周期內可能面臨的復雜溫濕度變化,實現階梯式、循環式等多樣化測試場景,無需人工頻繁干預,大幅提升檢測效率與準確性。

設備搭載智能控制系統,采用PID 算法,結合高精度溫濕度傳感器,對溫濕度變化響應靈敏??諝庋h系統配備耐溫低噪音空調型電機與多葉式離心風輪,確保箱體內各區域溫濕度均勻度≤2.0℃(溫度)與≤3.0% RH(濕度),避免因局部環境差異導致檢測誤差。同時,升溫速率達每分鐘 2.0℃ - 3.0℃,降溫速率為每分鐘 0.7℃ - 1.2℃,有效縮短檢測周期。




在晶圓廠實際應用中,該設備展現出強大價值。通過預先設定程序,模擬芯片在高溫高濕的熱帶地區、低溫干燥的極地環境等不同場景下的溫濕度變化曲線,能精準檢測芯片是否存在電路老化、焊點失效、電氣性能衰減等潛在問題。某晶圓廠技術負責人表示,使用廣皓天可程式恒溫恒濕試驗箱后,芯片可靠性檢測效率提升 40%,產品不良率降低 15%,極大增強了產品市場競爭力。
廣皓天企業負責人透露,此次批量訂單的達成,是企業多年來深耕半導體檢測設備研發的成果體現。未來,廣皓天將持續聚焦行業需求,優化可程式試驗箱功能,研發更多智能化、高精度檢測設備,為半導體產業高質量發展提供堅實技術支撐。



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